强度调制光电流/光电压光谱法是一种发现以下样品特性的方法：
- 少数载流子寿命（重组时间）、
- 载流子通过样品的传输时间、
- 扩散常数、
- 扩散长度（如果已知样品厚度）
- 样品厚度（如果样品扩散长度已知）
- 通过界面的电荷传输速率
- 以及更多动力学量
IMPS/IMVS 仪器是光电光谱仪或微型光电光谱仪等静态光电流/光电电压测量设备的补充。
IMPS/IMVS 软件非常直观，不需要任何额外的培训。
下面所示的测量结果是在 KNO3 电解液中对 ITO 箔上的纳米晶锐钛矿获得的。
奈奎斯特（或阿甘德）图显示了在光调制频率范围内测得的光电流的实部和虚部。
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显示光电流实部和虚部与光调制频率关系的 3D 奈奎斯特（阿甘）图。
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伯德图显示了相对于光调制的光电流幅度和相移。 明显的相位跳变是由于假定的相位范围从 -π 到 π 造成的。
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光电流的实部（X）和虚部（Y）与光调制频率的函数关系。
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及时产生光电流。 警告：与使用 IUPAC（反符号）约定的恒电位测量（世界上所有恒电位仪采用）相比，当前的符号约定是正常的。
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测量工作由 J. Kuncewicz 教授（雅盖隆大学）完成并分享。
以下配件与产品兼容