en
pl
Sonda Kelvina do badania stanów powierzchniowych próbek

Służy do pomiaru pracy wyjścia elektronu z powierzchni próbki półprzewodnika.

Cena:
Cena netto 25
Cena brutto (z VAT) 30.75
  • pln
  • usd
  • eur
Kup produkt:
specyfikacja

Sonda Kelvina służy do pomiaru pracy wyjścia elektronu z powierzchni próbki półprzewodnika.

Elementy

Urządzenie składa się z sondy na statywie, elektroniki sterującej
i klatki Faradaya.

  • Próbka jest umieszczana na stoliku XY, który ma możliwość ręcznego lub zmotoryzowanego przesuwu o 1.5 cm w obu kierunkach.
  • Przy każdym dojeździe sondy do próbki mierzona jest rzeczywista odległość pomiędzy próbką a sondą, z dokładnością do 50 µm.
  • Sonda ma wskaźnik miejsca, w którym się znajdzie, po opuszczeniu na próbkę, co ułatwia pozycjonowanie próbki.
  • Częścią urządzenia jest mikroskop USB skierowany na próbkę oraz zewnętrzna lampka.
  • Nad sondą znajduje się uchwyt światłowodowy – światłowód służy do oświetlania próbki światłem z monochromatora.
  • Podczas manipulacji przy próbce sonda jest chowana pod metalową osłoną, co zapobiega jej przypadkowemu uszkodzeniu.

kliknij obrazek, aby powiększyć

 

 

Końcówka sondy

Końcówka sondy to Kelvin Probe S z Besocke Delta Phi GmbH.

kliknij obrazek, aby powiększyć

 

Elektronika

Elektronika sterująca obsługuje silnik krokowy osi pionowej.

  • Sterownik silnika jest liniowy, generuje pomijalnie małe zakłócenia elektromagnetyczne.
  • Elektronika sterująca umożliwia szybki dojazd na wysokość
    1 mm ponad próbkę oraz szybki powrót pod osłonę.
  • W zakresie 0-10 mm nad próbką możliwe jest ustawienie odległości sondy od próbki z rozdzielczością 5 µm.
  • W elektronice sterującej znajduje się karta pomiarowa
    o rozdzielczości 16 bitów i zakresie pomiarowym ±5 V.
    Dane z niej są transmitowane do komputera przez USB.

kliknij obrazek, aby powiększyć

 

Klatka

Na całą sondę jest zakładana klatka Faradaya ekranująca ją od otoczenia. Na klatce zamontowano gniazdo uziemiające.

kliknij obrazek, aby powiększyć

przykładowe wyniki

Poniższe rezultaty pochodzą z publikacji Przemysława Kwolka i Konrada Szaciłowskiego „Photoelectrochemistry of n-type BiOI” . Autorzy użyli naszej sondy Kelvina do badania stanów powierzchniowych BiOI oraz w celu potwierdzenia, że BiOI jest półprzewodnikiem typu n.

Widmo różnicowego fotonapięcia powierzchniowego dla próbki BiOI osadzonej na powierzchni ITO. Fotnapięcie jest mierzone jako zmiana napięcia powierzchniowego pod wpływem pulsującego oświetlenia względem złotej elektrody referencyjnej.

Wyjaśniający zjawisko cytat z publikacji: „The surface photovoltage response […] is observed in the visible region of the spectrum. It also stays in a good agreement with the absorption spectrum, since the photovoltage diminishes at 700 nm, but NIR illumination within 700-1000 nm still produces weak response. When the sample is under illumination the Fermi level of electrons splits to two quasi levels – one for electrons and one for holes. For the n-type semiconductor, the quasi Fermi level of electrons is shifted towards more negative potential values than the Fermi level of electrons in the dark. Therefore, negative surface photovoltage values confirms, that the obtained material shows the n-type semiconducting properties. Furthermore, the NIR sub- bandgap illumination also results in noticeable charge separation, which involves excitation of iodide-based surface states.”

P. Kwolek and K. Szacilowski, „Photoelectrochemistry of n-type bismuth oxyiodide”, Electrochimica Acta 104 (2013), 448-453.

kliknij obrazek, aby powiększyć

KUP PRODUKT
Krok 1
Sonda Kelvina
Cena netto 25
Cena brutto (z VAT) 30.75
  • pln
  • usd
  • eur
Akcesoria Przy zakupie produktu warto go wyposażyć w poniższe akcesoria
Spektrometr fotoelektryczny
Cena netto 27
Cena brutto (z VAT) 33.21
xau
Produkt
Cena netto 25
Cena brutto (z VAT) 30.75
xau
Akcesoria
Cena netto 0
Cena brutto (z VAT) 0
xau
Suma
0 0
  • pln
  • usd
  • eur
Krok 2
SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI
ZOSTAW KONTAKT DO SIEBIE - Odezwiemy się w przeciągu 48h

Zgodnie z przepisami Ustawy z dnia 29 sierpnia 1997 r. o ochronie danych osobowych wyrażam zgodę na przetwarzanie moich danych osobowych przez Instytut Fotonowy Sp. z o.o. dla potrzeb kontaktu w sprawie oferowanych usług.

SKONTAKTUJ SIĘ Z NAMI - Odpowiemy na wszystkie Twoje pytania. + 48 666 059 798 office@fotonowy.pl
158,323,92654,2360